如果您對(duì)該產(chǎn)品感興趣的話(huà),可以
產(chǎn)品名稱(chēng):
江蘇蘇州日本分光干渉式晶圓膜厚儀
產(chǎn)品型號(hào):
SF-3
產(chǎn)品展商:
其它品牌
折扣價(jià)格:
0.00 元
關(guān)注指數(shù):205
產(chǎn)品文檔:
無(wú)相關(guān)文檔
非接觸式、非破壞性光學(xué)式膜厚檢測(cè)
采用分光干涉法實(shí)現(xiàn)高度檢測(cè)再現(xiàn)性
可進(jìn)行高速的即時(shí)研磨檢測(cè)
可穿越保護(hù)膜、觀(guān)景窗等中間層的檢測(cè)
可對(duì)應(yīng)長(zhǎng)工作距離、且容易安裝于產(chǎn)線(xiàn)或者設(shè)備中
體積小、省空間、設(shè)備安裝簡(jiǎn)易
可對(duì)應(yīng)線(xiàn)上檢測(cè)的外部信號(hào)觸發(fā)需求
采用*適合膜厚檢測(cè)的獨(dú)自解析演算法。(已取得磚利)
可自動(dòng)進(jìn)行膜厚分布制圖(選配項(xiàng)目)
江蘇蘇州日本分光干渉式晶圓膜厚儀
的詳細(xì)介紹
|
SF-3
|
|
膜厚測(cè)量范圍
|
0.1 μm ~ 1600 μm※1
|
|
膜厚精度
|
±0.1% 以下
|
|
重復(fù)精度
|
0.001% 以下
|
|
測(cè)量時(shí)間
|
10msec 以下
|
|
測(cè)量光源
|
半導(dǎo)體光源
|
|
測(cè)量口徑
|
Φ27μm※2
|
|
WD
|
3 mm ~ 200 mm
|
|
測(cè)量時(shí)間
|
10msec 以下
|
※1 隨光譜儀種類(lèi)不同,厚度測(cè)量范圍不同
※2 *小Φ6μm