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產(chǎn)品名稱:
超高對(duì)比檢測(cè)儀(Giga)
產(chǎn)品型號(hào):
cp-004
產(chǎn)品展商:
OTSUKA大冢光學(xué)
折扣價(jià)格:
0.00 元
關(guān)注指數(shù):427
產(chǎn)品文檔:
無相關(guān)文檔
1億:1的超高對(duì)比量測(cè)能力。
1億:1對(duì)比以內(nèi)之相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差3%以下。
可量測(cè)黑輝度的調(diào)光變化。
實(shí)現(xiàn)3秒高速量測(cè)。
在簡(jiǎn)易暗室環(huán)境即可進(jìn)行量測(cè)。
可提供客制化的解決方案。
超高對(duì)比檢測(cè)儀(Giga)
的詳細(xì)介紹
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1億:1對(duì)比以內(nèi)之相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差3%以下。
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可量測(cè)黑輝度的調(diào)光變化。
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實(shí)現(xiàn)3秒高速量測(cè)。
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在簡(jiǎn)易暗室環(huán)境即可進(jìn)行量測(cè)。
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可提供客制化的解決方案。
量測(cè)項(xiàng)目
系統(tǒng)構(gòu)成圖
產(chǎn)品規(guī)格
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樣品尺寸
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3.5吋以上
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量測(cè)范圍
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對(duì)比度: 1～1億
輝度: 2×10-5 cd/m2 ～ 2×103 cd/m2
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量測(cè)時(shí)間
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約3秒(量測(cè)一次所需時(shí)間)
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軟件界面
